好消息！Piotec的非接触式电气性能芯片读卡测试芯片电容器取得重大突破！

在2024年新年伊始，PIOTEC传来捷报。非接触式电气性能芯片读取器测试芯片电容取得重大突破！研发团队已成功调试，通过测试多种电容器和非接触式芯片电容，与标准仪器相比，精度满足要求。

这一技术可有效提升芯片生产效率和性能质量。但开发难度极大，在国内非接触射频测试领域尚属空白，全球范围内也仅有少数几家公司掌握该技术。

依托核心与领先技术——读取器进行深度开发和研究，是PALTECO一贯坚持的技术发展战略。研发团队通过理论计算和仿真软件计算验证了电容算法的可行性；

通过技术调研、方案论证、关键电路设计、关键器件选型，设计了非接触性能测试读取器样机，收集了大量测试数据；通过数据处理与分析，设计了一套校准算法，使电容测量精度与标准仪器相当；

通过FPGA平台设计，实现了高速测试。

新的一年，研发团队将增加电容测试样本，在不同样机、不同环境下测试不同类型芯片电容，并与标准仪器比对精度，以验证电容测试的稳定性和准确性。完成整个研发流程，实现产品化，助力PIOTEC拓展市场优势，助力中国制造走向全球。