二零二四新年伊始，派尔泰科捷报频传。非接电性能测试读写器芯片电容测试项目取得重大突破！研发团队已实现成功调试，通过测试多种电容和非接芯片电容，与标准仪器对比，精度符合要求。
该项技术能够有效提高芯片的生产效率和性能品质。但研发难度高，在国内非接射频测试领域处于行业空白；放眼全球，拥有此项技术的公司不过三两家。派尔泰科的此次技术突破，可以称之为：国内领先，国际一流。
聚焦主业，厚积薄发。依托优势核心技术-读写器开展深度拓展研发，是派尔泰科一直秉持的技术发展战略。研发团队通过理论计算与仿真软件计算，验证了电容算法的可行性；通过技术调研、方案论证、关键电路设计、关键器件选型，设计出了非接电性能测试读写器样机，收集了大量的测试数据；通过对数据处理和分析，设计了一套校准算法，使电容测试精度与标准仪器的测量精度相当；通过FPGA平台设计，实现了高速测试。
一鼓作气，飞龙在天。新的一年，研发团队将加大电容测试的样本，对不同样机、不同环境下、不同种类的芯片电容进行测试，与标准仪器进行精度对比，以验证电容测试的稳定性及准确性。完成研发全流程，实现产品化，助力派尔泰科扩大市场优势，助力中国制造走向世界。
