PTM-120T可对智能卡接触、非接触以及双界面芯片模块条带进行铳断筋、芯片电性能测试、芯片初始化等操作,同时通过视觉识别功能可自动对来料原废孔进行检测,并测试后对测试、读写失败模块进行铳孔标记。独特的专利技术设计使操作人员可在60秒内快速切换M3(6PIN 9.5mm)及M4(8PIN 14.25mm)条带芯片生产。
配置120个接触电性能读写器对M3芯片条带测试产能最高可以达到10万片每小时,对M4芯片条带测试产能最高可以达到7.7万片每小时。
配置60个接触电性能读写器对M3芯片条带测试产能最高达到6万片每小时,对M4芯片条带测试产能最高可以达到3.7万片每小时。
容量 | 53000UPH |
尺寸 | 4750mm × 840mm × 1960mm (含断筋单元)。 3800mm × 840mm × 1960mm (不含断筋单元)。 |
重量 | 800kg (含破碎钢筋单位)。 650kg (不含断筋单元)。 |
电源 | 220v (-5% ~ + 10%) 50hz 4KW (含破碎钢筋机组)。 220v (-5% ~ + 10%) 50hz 2KW (不含断筋单元)。 |
空气供应 | 不需要气源。 |
噪声 | <50dB |
工作温度 | 室温: 23 ℃ ± 3 ℃ |
运行湿度 | 50 ± 10% |
最大吞吐量 | 60,000 UPH (含破碎钢筋单位)。 120,000UPH (6PIN,不包括断裂钢筋单元)。 |
短路冲孔吞吐量 | 最大生产能力60000 UPH (每轮14件)。 |
芯片模块规格 | M2, M3 |
通信接口 | 以太网 |
主动、从动料盘位置调整方便,可适应不同的来料方向;可兼容12.6MM和38MM轴径料盘。
1.可配置120个电检测测试头可对纯接触模块条带进行芯片电性能测试、芯片初始化。
2.可配置60个电检测测试头和60个非接测试头对双界面模块条带进行芯片电性能测试、芯片初始化。
配置2个电接触电笥能测试头和2个非接测试头。2组接触写头或3组非接触写头,可对主写失败的芯片自动补写,最大程度地降低废品率。
对补写失败的芯片进行铳废孔标识,可通过软件对铳孔位置进行灵活设置而无需手动调节,大大地提高了铳孔精度和生产效率;此单元可独立工作。
对写入完成的条带进行收卷,并包覆好保护带;此单元可独立工作。
可对芯片条带连接筋进行铳切;通过更换模具可轻松实现对不同规格的芯片条带进行铳切;此单元可独立工作。
设备同时兼容M3(6pin 9.5mm)及M4(8pin 14.25mm)芯片模块条带生产。
独特的芯片类型快速切换专利技术:无需拔插线缆,60s内即可实现6pin和8pin生产任务的快速切换,大大提升转单效率。
M3(9.5mm)规格芯片最大产能100,000片/小时;M4(14.25mm)规格芯片最大产能77,000片/小时。
自主研发的工业级读写器,具备开短路检测功能,稳定性及性价比极高。
独立的边孔视觉检测模块,对边孔及废孔进行高速高精度的实时检测,保证边孔检测准确性及精度。
灵活的检测方案适用于不同的IC模块应用。
独立的冲孔机构,可通过参数精确设置双排芯片的冲孔位置(XY方向皆可),无需调整机械结构位置,精度高、冲孔一致性好。
全电动驱动,无需外接气源,对工作场所条件要求不高。
支持引脚的开短路测试(正负电流可调)。
支持引脚的漏电流测试。
支持芯片静态电流测试。
支持加压测流和加流测压功能(V=f(I),I=f(V))。
引脚电压Vih和Vil可调。
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